[发明专利]浮质产生装置中的浮质形成基质的检测有效
| 申请号： | 201280060088.5 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN104010530A | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | P·塔隆 | 申请（专利权）人： | 菲利普莫里斯生产公司 |
| 主分类号： | A24F47/00 | 分类号： | A24F47/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 张涛 |
| 地址： | 瑞士纳*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 提供一种浮质产生装置，其包括：加热器元件(20)，所述加热器元件构造成加热浮质形成基质(2)；功率源(40)，所述功率源连接到加热器元件；和控制器(30)，所述控制器连接到加热器元件并连接到功率源，其中，控制器构造成控制从功率源供给到加热器元件的功率，以将加热器元件的温度保持在目标温度，并且控制器构造成将从功率源供给到加热器元件的功率的测量值或从功率源供给到加热器元件的能量的测量值与功率或能量的测量值阈值相比较，以检测靠近加热器元件的浮质形成基质的存在或靠近加热器元件的浮质形成基质的材料特性。 | ||
| 搜索关键词： | 产生 装置 中的 形成 基质 检测 | ||
【主权项】：
一种浮质产生装置，其包括：加热器元件，所述加热器元件构造成加热浮质形成基质；功率源，所述功率源连接到所述加热器元件；和控制器，所述控制器连接到所述加热器元件并连接到所述功率源，其中，所述控制器构造成控制从所述功率源供给到所述加热器元件的功率，以将所述加热器元件的温度保持在目标温度，并且所述控制器构造成将从所述功率源供给到所述加热器元件的功率或从所述功率源供给到所述加热器元件的能量的测量值与功率或能量的测量值阈值相比较，以检测靠近所述加热器元件的浮质形成基质的存在或靠近所述加热器元件的浮质形成基质的材料特性。
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