[发明专利]用于光学评估的方法和系统以及光学检测器有效
| 申请号： | 201280066613.4 | 申请日： | 2012-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN104204774A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 史蒂芬·沙普尔斯;罗格·莱特 | 申请（专利权）人： | 诺丁汉大学 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01H9/00;H01L27/146 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 英国诺*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种光学检测器包括多个像素，每个像素包括光电二极管，所述光电二极管可操作为检测入射在该像素上的光并产生指示该光的强度的信号。多个像素包括多个像素对，并且对于每个像素对，在配置模式中，检测器被设置为比较由像素对的第一像素产生的信号与由像素对的第二像素产生的信号。还描述了一种光学检测方法，如包括所述光学检测器的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 评估 方法 系统 以及 检测器 | ||
【主权项】：
一种光学检测器，包括多个像素，每个像素包括光电二极管，所述光电二极管可操作为检测入射在该像素上的光并且产生指示该光的强度的信号，其中，所述多个像素包括多个像素对，并且其中，对于每个像素对，在配置模式中，所述检测器被设置为比较由所述像素对的第一像素产生的信号与由所述像素对的第二像素产生的信号。
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