[发明专利]空白罩幕以及光罩的制造方法有效
申请号: | 201280069965.5 | 申请日: | 2012-10-26 |
公开(公告)号: | CN104160335B | 公开(公告)日: | 2017-12-26 |
发明(设计)人: | 南基守;姜亘远;李钟华;梁澈圭;权顺基 | 申请(专利权)人: | 株式会社S&S技术 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26;G03F1/70;G03F1/80 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 韩国大邱广*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种制造光罩(其中硬罩膜图案是用来作为蚀刻罩幕,以蚀刻在硬罩膜图案下的相反转膜)的方法。本发明还提供一种用于制造光罩的方法的空白罩幕以及使用空白罩幕的光罩。根据本发明,可将用于图案化硬罩膜的光阻膜形成为薄厚度,并且可使用具有高蚀刻选择性的硬罩膜图案来蚀刻相反转膜,且因此,光罩可由藉由遮光膜图案而将光学密度维持为3.0的方式来制造,同时可增加图案的分辨率与精确度、减少负载效应以及改善关键尺寸特性(如关键尺寸均匀度与关键尺寸线性度)。 | ||
搜索关键词: | 空白 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种空白罩幕,包括:透明基板;遮光膜图案,形成在所述透明基板的上表面上,以将所述透明基板的边缘区域定义为盲区;相移层,形成为覆盖所述遮光膜图案以及所述遮光膜图案暴露出的所述透明基板的上表面;以及硬罩膜,形成为与所述相移层的上表面接触,以作为所述相移层的蚀刻罩幕,其中所述遮光膜图案与所述相移层的厚度经调整以确保所述盲区上的光学密度。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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