[发明专利]含钩状接脚触点边缘的测试用插座

摘要

本发明提供一种测试用插座，可在进行一次集成电路测试时适用于测试各种不同的集成电路(IC)焊垫尺寸。测试用插座包含一个模塑插座，模塑插座含有一个内部空间与配置在模塑插座表面的多个直通孔；与多个接触组件，配置于模塑插座的内部空间中，且每个接触组件都有一个接脚触点边缘与一个接脚末端；其中每个接脚触点边缘可经由模塑插座的这些直通孔而延伸；其中每个接脚触点边缘能提供一个线性区域而接触DUT的导线；其中每个接脚触点边缘能提供一个较大的接触面积，接触面积可适用于各类DUT的导线尺寸。

主权项

一种测试用插座，用于测试含有导线的一个待测件即DUT，所述测试用插座包含：一个模塑插座，含有一个内部空间和配置于所述模塑插座表面的多个直通孔；一个浮置嵌套，所述浮置嵌套由所述模塑插座顶部上的多个弹簧所支撑,其中所述DUT在进行测试时置放在浮置嵌套上；一个插座盖，所述插座盖含有一个位于所述插座盖中央的开口，其中所述插座盖适用于盖在所述模塑插座之上以便将所述浮置嵌套保持在适当位置；以及多个接触组件，其被配置于所述模塑插座的内部空间中，其中每一个接触组件含有一个接脚触点边缘与一个接脚末端；其中每个所述接脚触点边缘经由所述模塑插座的这些直通孔而延伸以在进行测试时接触所述DUT；其中每个所述接脚触点边缘定义一个线性表面区域以接触所述待测件的导线；以及其中每个所述接脚触点边缘提供一个相对于接触顶面较大的接触面积，以用于各类所述待测件的导线尺寸。