[发明专利]质量分析装置有效
申请号: | 201280071666.5 | 申请日: | 2012-03-22 |
公开(公告)号: | CN104204791A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
发明(设计)人: | 向畑和男 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;H01J49/06 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 调整对象的m/z越大,则相对于电压变化表示强度变化的峰的宽度越宽,因此即使扩大搜索最佳电压时的电压步宽也不会看漏最大强度。在此,将针对低m/z提供窄的电压步宽、针对高m/z提供宽的电压步宽的关系式预先存储到电压步级信息存储部(32),在电压自动调整时,最佳电压调整控制部(31)利用该存储信息来求出与调整对象的m/z相应的最佳电压步宽,控制电源部(21)使得对第一离子导向器(8)施加的电压阶段性地变化。判断施加电压每次变化时获得的离子强度,求出提供最大强度的电压值并保存到最佳电压信息存储部(33)。由此,当对离子导向器等离子输送光学元件施加的电压自动调整时,不会看漏提供最大离子强度的最佳电压值,并且能够缩短调整所需的时间。 | ||
搜索关键词: | 质量 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种质量分析装置,在离子源与检测器之间具备离子输送光学元件,具有基于对试样中的规定成分进行质量分析而得到的结果将对上述离子输送光学元件施加的电压最优化的调整功能,该质量分析装置的特征在于,还具备:a)电压施加单元,其是使对上述离子输送光学元件的施加电压的电压值以规定步宽阶段性地变化的单元,与该电压值相应地变更上述步宽;以及b)最佳电压搜索单元,其每当利用上述电压施加单元改变施加电压时,获取与源自规定成分的离子对应的离子强度信息,基于该离子强度信息求出提供最大的离子强度的电压值。
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