[发明专利]处理装置及测试装置有效
| 申请号： | 201310005092.8 | 申请日： | 2013-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN103207329A | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 堀野浩光;小野泽正贵 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，具有沿第1方向与被测试器件同数目排列的多个摄像元件，将多个摄像元件沿与第1方向不平行的第2方向，相对于托盘的表面作相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的各个被测试器件的图像，调整被测试器件对插座的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 处理 装置 测试 | ||
【主权项】：
一种处理装置，是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，其具有：测试部，设置有所述插座；加热部，其搬送在表面上载置了所述多个被测试器件的托盘，将所述多个被测试器件的温度控制为预先规定的测试温度，并将所述托盘搬送到所述测试部；器件摄像部，在所述加热部内，具有沿第1方向排列与所述被测试器件同数目的多个摄像元件，沿与第1方向不平行的第2方向，相对于所述托盘的表面相对地移动所述多个摄像元件，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于所述器件摄像部拍摄到的各个所述被测试器件的图像，调整所述被测试器件相对于所述插座的位置。
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