[发明专利]红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法有效
申请号: | 201310005450.5 | 申请日: | 2013-01-08 |
公开(公告)号: | CN103076156A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 张晓琳 | 申请(专利权)人: | 江苏涛源电子科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 常州市夏成专利事务所(普通合伙) 32233 | 代理人: | 姜佩娟 |
地址: | 213000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及盲元检测的技术领域,尤其涉及一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法,本方法主要包括两个具体方面,基于滑动窗口的定标系数的响应异常盲元检测方法;基于多温度,多帧补偿的噪声盲元检测方法。通过本方法对红外焦平面进行盲元补偿可知,该方法查找速度快、定位准确、误判率低,是一种比较实用的盲元检测方法。 | ||
搜索关键词: | 红外 平面 阵列 判据 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法,其特征在于,该方法的步骤如下:步骤1,记录不同温度下黑体辐射源的探测原始数据图像幅时,黑体每个像素点的幅图像的均值、整个焦平面响应均值、偏差极值和时域噪声均方根;步骤2,计算不同温度下焦平面时域噪声均方根的均值,将时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较,记为像元集合;步骤3,计算不同温度下焦平面偏差极值均值,将偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较,记为像元集合;步骤4,利用采集不同温度下黑体获得的图像数据,计算两点两段非均匀性校正参数,记为像元集合;步骤5,对两点两段非均匀性校正参数所组成的阵列进行镜像延拓,求其中值,其中严拓的与领域运算限制在5×5的滑动窗口中;步骤6,利用滑动窗口机制,将两点两段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较,记为像元集合;步骤7:将获得最终的盲元检测结果取并集,得到最终的结果。
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