[发明专利]显卡测试系统及显卡测试方法无效
申请号: | 201310008433.7 | 申请日: | 2013-01-10 |
公开(公告)号: | CN103927242A | 公开(公告)日: | 2014-07-16 |
发明(设计)人: | 陈俊生 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430205 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种显卡测试系统及方法。该系统用于对同时具有外接显卡及集成显卡的主板进行显卡功能检测,并通过一与该集成显卡可插拔相连的第一显示器显示检测结果。该系统运行于具有该主板的主机中,并在处理器的控制下执行。该系统包括:第一检测模块,在检测状态时,测试该外接显卡的显示功能;获取模块,获取该第一显示器与该集成显卡的连接状态,判断该第一显示器是否与该集成显卡电连接;屏蔽模块,当该第一显示器与该集成显卡电连接时,屏蔽该外接显卡的显示功能;重启模块,重启具有该显卡操作系统的主机;及第二检测模块,启动测试程序检测该集成显卡的显示功能。 | ||
搜索关键词: | 显卡 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种显卡测试系统,用于对同时具有外接显卡及集成显卡的主板进行显卡功能检测,并通过一与该集成显卡可插拔相连的第一显示器显示对该集成显卡进行功能检测的检测结果,该显卡测试系统运行于具有该主板的主机中,并在一处理器的控制下执行,其特征在于,该显卡测试系统包括:第一检测模块,用于在检测状态时,测试该外接显卡的显示功能;获取模块,用于获取该第一显示器与该集成显卡的连接状态,判断该第一显示器是否与该集成显卡电连接;屏蔽模块,用于当该获取模块的侦测结果显示该第一显示器与该集成显卡电连接时,屏蔽该外接显卡的显示功能;重启模块,用于重启具有该显卡测试装置的主机;及第二检测模块,用于启动测试程序检测该集成显卡的显示功能。
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