[发明专利]一种判别低丰度有效烃源岩的方法有效

专利信息
申请号: 201310008706.8 申请日: 2013-01-10
公开(公告)号: CN103926388A 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 庞雄奇;霍志鹏;姜福杰;范泊江;沈卫兵;李素梅 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01N33/24 分类号: G01N33/24
代理公司: 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11382 代理人: 曹津燕;张伟
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种判别低丰度有效烃源岩的方法,其具体步骤为:获取某一区域多个地点、多个单井、同一岩性烃源岩热解参数和有机质成熟度(Ro)参数;筛选出低丰度(TOC≤0.5%)烃源岩对应的热解参数和Ro,根据筛选的烃源岩参数计算每个深度或Ro对应的生烃潜力指数;绘制相同间隔、不同范围TOC烃源岩生烃潜力指数随深度或Ro演化剖面;在多个连续不同范围TOC烃源岩生烃潜力指数演化剖面中寻找首次出现排烃门限的演化剖面,该演化剖面对应的TOC值(或TOC范围)即为低丰度有效烃源岩的TOC下限值,此TOC值以上的烃源岩为低丰度有效烃源岩。本发明避免了以往判别有效烃源岩的一些弊端,既适用碳酸盐岩有效烃源岩的判别,也适用泥质烃源岩,本发明具有操作简单、精度较高的优点。
搜索关键词: 一种 判别 低丰度 有效 烃源岩 方法
【主权项】:
一种判别低丰度有效烃源岩的方法,所述方法包括以下步骤:(1)通过岩石热解实验和镜质体反射率分析实验,获得某一区域多个地点、多个单井同一岩性烃源岩热解参数和反映烃源岩成熟度的镜质体反射率Ro参数;(2)筛选出有机碳含量TOC≤0.5%对应的烃源岩热解参数和Ro,根据筛选的热解参数计算每个深度或Ro对应的生烃潜力指数;(3)绘制相同间隔、不同范围TOC烃源岩生烃潜力指数随深度或Ro演化剖面;(4)在多个连续不同范围TOC烃源岩生烃潜力指数演化剖面中寻找首次出现排烃门限的演化剖面,该演化剖面对应的TOC值或TOC范围即为低丰度有效烃源岩的TOC下限值,此TOC值以上的烃源岩为低丰度有效烃源岩。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油大学(北京),未经中国石油大学(北京)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310008706.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top