[发明专利]一种基于LSP效应陷光增效新型减反射结构的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310009297.3 申请日: 2013-01-09
公开(公告)号: CN103022266A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 李美成;戴菡;丁瑞强;陈召;谷田生;范汇洋 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;C23F1/32;C23C14/16;C23C14/35
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 薄观玖
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于太阳能电池技术领域,特别涉及一种基于LSP效应陷光增效新型减反射结构的制备方法。本发明先利用碱刻蚀在单晶硅表面刻蚀出锥体形貌,然后利用溅射-退火手段在锥体表面沉积一层非连续的银纳米颗粒的方法,得到了由银纳米颗粒与锥体结构复合的新型陷光结构。本发明结构在全太阳光谱范围内比单纯的锥体结构反射率降低3.4%。本发明采用了简单实用的硅片清洗与银纳米颗粒溅射沉积工艺过程,提出了一种更为有效的陷光结构的制备方法,利用常温湿法刻蚀手段,结合LSP效应,获得了比传统碱性刻蚀所得结构更高的减反射效果,该方法的设计与制备工艺为提高硅及硅薄膜太阳能电池的效率提供新的技术手段。
搜索关键词: 一种 基于 lsp 效应 增效 新型 反射 结构 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于LSP效应陷光增效新型减反射结构的制备方法,其特征在于,先利用碱刻蚀在单晶硅表面刻蚀出锥体形貌,然后利用溅射-退火手段在锥体表面沉积一层非连续的银纳米颗粒的方法,得到了由银纳米颗粒与锥体结构复合的新型陷光结构,具体步骤如下:a.将电阻率为8Ωcm~13Ωcm的(100)单晶硅片浸泡在丙酮溶液中,在35℃水浴中超声10min~20min;然后用去离子水冲洗干净后,超声10min~15min;取出样品,放在CP4A清洗液中常温浸泡3min~5min,所述CP4A清洗液为质量分数为40%的氢氟酸、乙酸、质量分数为65%~68%的硝酸及超纯水组成的混合溶液,其中质量分数为40%的氢氟酸、乙酸、质量分数为65%~68%的硝酸及超纯水的体积比为3:5:3:22;最后用质量分数为14%的氢氟酸溶液浸泡2min~3min后,取出用去离子水冲洗干净,然后用氮气吹干,放入干燥器中备用;b.用质量分数为3%的氢氧化钠、体积分数为8%的异丙醇配置刻蚀液,其中质量分数为3%的氢氧化钠与体积分数为8%的异丙醇溶液的体积比为25:2,在80℃水浴条件下刻蚀经步骤1处理好的样品30min~50min,在硅表面刻蚀出锥体结构;c.利用高分辨磁控离子溅射仪在已刻蚀的锥体结构表面镀银,溅射电流为15mA~50mA、溅射时间为15s~30s;d.步骤c所得锥体结构表面镀银样品在氮气保护下,在350℃~400℃条件下,退火2h~3h,待冷却后,在硅表面形成一层粒径在40nm~100nm之间的非连续银纳米颗粒,即得到基于LSP效应陷光增效新型减反射结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华北电力大学,未经华北电力大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310009297.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top