[发明专利]一种石英晶体微天平检测装置

摘要

本发明公开了一种石英晶体微天平检测装置，包括底座、封盖、硅胶垫片和石英晶片；石英晶片位于底座凹槽内，其底端中心加工有上下两面分别设有上电极和下电极的石英晶片凹槽；硅胶垫片上下两面分别与封盖和底座相连，且石英晶片凹槽左右两端与硅胶垫片相连；进样口和出样口均与中心长通孔相连通；上电极由上弹簧针探头依次穿过第三硅胶通孔和上探头通孔引出，下电极由下弹簧针探头穿过下探头通孔引出。本发明提供了一种石英晶体微天平检测装置，该装置中的流通池可以重复利用，结构简单，且性能稳定，还实现了对石英晶体微天平的高频小型化，提高了其质量-频率灵敏度，可以完成对小分子或痕量物质的检测，且所需待检测物的最小样品量小。

主权项

一种石英晶体微天平检测装置，其特征在于，包括底座（1）、封盖（4）、硅胶垫片（8）和石英晶片（12）；所述底座（1）中心设有底座凹槽（2），所述底座凹槽（2）底端设有下探头通孔（3）；所述封盖（4）上设有进样口（5）、出样口（6）和上探头通孔（7）；所述硅胶垫片（8）上设有中心长通孔（9）和第三硅胶通孔（19）；所述石英晶片（12）位于所述底座凹槽（2）内，且在石英晶片（12）底端中心设有开口向下的石英晶片凹槽；所述石英晶片凹槽上下两面分别设有上电极（15）和下电极（16）；所述硅胶垫片（8）上下两面分别与封盖（4）和底座（1）相连，且石英晶片凹槽左右两端均与硅胶垫片（8）相连；所述进样口（5）和出样口（6）均与中心长通孔（9）相连通；所述上电极（15）由上弹簧针探头（13）依次穿过第三硅胶通孔（19）和上探头通孔（7）引出，下电极（16）由下弹簧针探头（14）穿过下探头通孔（3）引出；所述中心长通孔（9）的横截面积大于石英晶片凹槽的横截面积，且小于石英晶片（12）顶端的表面积。