[发明专利]一种键合机台装置与键合对准的方法有效
申请号: | 201310013119.8 | 申请日: | 2013-01-14 |
公开(公告)号: | CN103077904A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 李平 | 申请(专利权)人: | 陆伟 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/68 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 200124 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及半导体制造键合技术,具体涉及一种键合机台装置与键合对准的方法。包括将顶部对准相机和底部对准相机分别与标准对准标识对准;将顶部卡盘对准标识与底部对准相机对准,将底部卡盘对准标识与顶部对准相机对准;将顶部晶圆对准标识与顶部卡盘对准标识对准;底部晶圆对准标识与底部卡盘对准标识对准;顶部晶圆对准标识与底部对准相机对准,将底部晶圆对准标识与顶部对准相机对准;对准后的顶部晶圆与底部晶圆进行键合。通过本发明实质上减少了卡盘是否对准这个未知参数,使晶圆对准更加精确,从而解决键合过程中对准度低导致影像传感器器良品率低与对准时间长的问题,进而提高影像传感器的良品率,减少整个键合工艺的时间,提高生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 机台 装置 对准 方法 | ||
【主权项】:
一种键合机台对准的方法,其特征是:包括以下步骤,步骤一,将键合机台上的顶部对准相机与键合机台上的标准对准标识对准,将底部对准相机与所述键合机台上的标准对准标识对准;步骤二,移动键合机台上的顶部卡盘将所述顶部卡盘上设有的顶部卡盘对准标识与底部对准相机对准,移动键合机台上的底部卡盘将所述底部卡盘上设有的底部卡盘对准标识与顶部对准相机对准;步骤三,将顶部晶圆固定在所述顶部卡盘上,将所述顶部晶圆上设有的顶部晶圆对准标识与顶部卡盘对准标识对准;将底部晶圆固定在键合机台上的底部卡盘上,将所述底部晶圆上设有的底部晶圆对准标识与底部卡盘对准标识对准;步骤四,移动顶部卡盘将顶部晶圆对准标识与底部对准相机对准,移动底部卡盘将底部晶圆对准标识与顶部对准相机对准;步骤五,将对准后的顶部晶圆与底部晶圆进行键合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陆伟,未经陆伟许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310013119.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:全自动混凝土渗透检测装置
- 下一篇:水压试验机油水平衡程序调试装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造