[发明专利]一种光电探测器频率响应测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 201310015436.3 | 申请日： | 2013-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN103837188A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 张尚剑;邹新海;王恒;张雅丽;刘永;陆荣国 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 徐丰;杨保刚 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电探测器频率响应测量装置及其测量方法，属于光电子技术领域。本发明避免了现有技术中传统方法复杂的校准过程，测量装置包括半导体激光器、偏振控制器、电光调制器、微波信号源、波长可调谐激光器、光耦合器、待测光电探测器、频谱分析仪；所述半导体激光器、偏振控制器、电光调制器、光耦合器与待测光电探测器之间依次光路连接，所述波长可调谐激光器光路连接电光调制器；所述微波信号源与电光调制器之间为电路连接；所述待测光电探测器与频谱分析仪之间为电路连接。本发明具有测量准确度高、操作简单的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 探测器 频率响应 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，包括半导体激光器（1）、偏振控制器（2）、电光调制器（3）、微波信号源（4）、波长可调谐激光器（5）、光耦合器（6）、待测光电探测器（7）、频谱分析仪（8）；所述半导体激光器（1）、偏振控制器、电光调制器、光耦合器与待测光电探测器之间依次光路连接，所述波长可调谐激光器光路连接电光调制器；所述微波信号源与电光调制器之间为电路连接；所述待测光电探测器与频谱分析仪之间为电路连接。
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