[发明专利]样品分析元件及检测装置

摘要

本发明提供一种样品分析元件及检测装置。以与入射光共振的间距，在一个方向排列包含大小小于入射光的波长且分散在介电体表面的金属纳米体的多个金属纳米体群。在邻接的金属纳米体群彼此之间，长条片在介电体表面上延伸。长条片由不具有与入射光共振振动的自由电子的材料形成。依靠入射光的作用，在金属纳米体中引起局域表面等离子体共振。依靠间距的作用引起传播表面等离子体共振。传播表面等离子体共振与局域表面等离子体共振结合。确立所谓的混合模式。长条片对确保间距起作用。

主权项

一种样品分析元件，其特征在于，具备：基板；形成在所述基板的表面的金属膜；形成在所述金属膜的表面的介电体表面；多个金属纳米体群；以及长条片，在相邻的所述多个金属纳米体群之间形成在所述介电体表面上，其中，所述多个金属纳米体群包含分散在所述介电体表面的金属纳米体，所述金属纳米体小于入射光的波长，所述多个金属纳米体群以与所述入射光共振的间距排列在一个方向或多个方向，所述长条片由不具有与所述入射光共振振动的自由电子的材料形成。