[发明专利]一种半导体激光器腔面钝化方法及装置无效
申请号: | 201310019456.8 | 申请日: | 2013-01-18 |
公开(公告)号: | CN103178440A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 王军营 | 申请(专利权)人: | 西安卓铭光电科技有限公司 |
主分类号: | H01S5/028 | 分类号: | H01S5/028;C23C14/22;C23C14/30 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 710018 陕西省西安市经*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体激光器腔面钝化方法及装置,包括:将半导体激光器巴条送入真空室,并进行抽真空;往所述真空室中通入预定流量和比例的氢气和氮气混合气;使所述氢气和氮气混合气形成等离子体,以利用所述等离子体对所述半导体激光器巴条的腔面进行离子钝化处理;在离子钝化处理后的所述半导体激光器巴条的腔面上镀设一层阻挡层。通过上述方式,本发明能够解决半导体激光器腔面钝化工艺复杂,钝化效果差等问题,且重复性好,适合工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体激光器 钝化 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体激光器的腔面钝化方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:将半导体激光器巴条送入真空室,并进行抽真空;往所述真空室中通入预定流量和比例的氢气和氮气混合气;使所述氢气和氮气混合气形成等离子体,以利用所述等离子体对所述半导体激光器巴条的腔面进行离子钝化处理;在离子钝化处理后的所述半导体激光器巴条的腔面上镀设一层阻挡层。
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