[发明专利]用于诊断电容传感器的装置及方法有效
| 申请号： | 201310019571.5 | 申请日： | 2013-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN103217185A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 马克·多马尔·赫赖斯;劳拉·卡斯蒂罗-瓦兹奎兹;安东尼·费雷·法布雷加斯 | 申请（专利权）人： | 李尔公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;郑霞 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了用于诊断电容传感器的装置及方法。在至少一个实施方案中，提供了用于诊断电容传感器的状态的装置。装置包括用于被可操作地耦合到表现漂移状态的去耦装置和电容传感器的控制单元。控制单元被配置成至少基于阻抗来确定电容传感器的阻抗和确定电容传感器的特性。控制单元还被配置成基于电容传感器的特性来确定去耦设备的特性，并基于去耦设备的特性提供估计电容，估计电容指示电容传感器的状态。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 诊断 电容 传感器 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于诊断电容传感器的状态的装置，所述装置包括：控制单元，其被可操作地耦合到表现漂移状态的去耦设备并耦合到所述电容传感器，所述控制单元被配置来：确定所述电容传感器的阻抗；至少基于所述阻抗，确定所述电容传感器的特性；基于所述电容传感器的所述特性，确定所述去耦设备的特性；及基于所述去耦设备的所述特性，提供估计电容，所述估计电容指示所述电容传感器的状态。
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