[发明专利]基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法及仪器有效
| 申请号： | 201310023618.5 | 申请日： | 2013-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN103105285A | 公开（公告）日： | 2013-05-15 |
| 发明（设计）人： | 张淑琴;陈亮;杨润光;金尚忠;杨琳;吴军法;徐珍宝;张林波;徐强;毛世挺 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 吴秉中 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括：标准光源（1）及其稳流源（2），聚光镜（3），积分球（4）及其移动机构，分辨率靶（5），和CCD数据采集和微机处理系统（8），所述分辨率靶（5）设置在所述积分球（4）的均匀漫射出口上；本发明还公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法。本发明补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白，利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率，可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布，还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 暗影 剔除 光纤 面板 极限 分辨率 测试 方法 仪器 | ||
【主权项】：
一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括：标准光源（1）及其稳流源（2），聚光镜（3），积分球（4）及其移动机构，分辨率靶（5），和CCD数据采集和微机处理系统（8），其特征在于：所述分辨率靶（5）设置在所述积分球（4）的均匀漫射出口上。
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