[发明专利]激光差动共焦图谱显微成像方法与装置有效

专利信息
申请号: 201310026956.4 申请日: 2013-01-21
公开(公告)号: CN103091299A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 赵维谦;崔晗;邱丽荣;王允 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N21/19;G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于光学显微成像及光谱测量技术领域,涉及一种高空间分辨激光差动共焦图谱成像方法与装置。本发明的核心思想是融合差动共焦探测和光谱探测技术,并利用二向色分光系统(13)对瑞利光和拉曼散射光进行无损分离,其中,拉曼散射光进行光谱探测,瑞利光进行几何位置探测,利用差动共焦曲线(43)过零点与焦点位置精确对应这一特性,通过过零点触发来精确捕获激发光斑焦点位置的光谱信息,实现高空间分辨的光谱探测,构成一种可实现样品微区高空间分辨光谱探测的方法和装置。本发明具有定位准确,高空间分辨,光谱探测灵敏度高和测量聚焦光斑尺寸可控等优点,在生物医学、法庭取证等领域有广泛的应用前景。
搜索关键词: 激光 差动 图谱 显微 成像 方法 装置
【主权项】:
激光差动共焦图谱显微成像方法,其特征在于:a)通过激发光束产生系统(1)产生激发光,经过第一分光系统(8)、物镜(10)后,聚焦在被测样品(11)上,并激发出瑞利光和载有被测样品(11)光谱特性的拉曼散射光,激发出的拉曼散射光和瑞利光被系统收集回光路中,经过物镜(10)后被第一分光系统(8)反射至二向色分光系统(13),经二向色分光系统(13)分光后,拉曼散射光和瑞利光相互分离,瑞利光被反射进入差动共焦探测系统(14),拉曼散射光透射进入光谱探测系统(22),利用差动共焦曲线(43)过零点与焦点位置精确对应这一特性,通过零点触发来精确捕获激发光斑焦点位置的光谱信息,实现高空间分辨的光谱探测;b)只对接收到的瑞利光信号进行差动相减处理时,系统可以进行高空间分辨的三维尺度层析成像;只对接收到的拉曼散射光的光谱信号进行处理时,系统可以进行光谱探测;同时对接收到的瑞利光和拉曼散射光的信号进行处理时,系统可以进行高空间分辨的微区图谱层析成像,即被测样品几何位置信息和光谱信息的高空间分辨的“图谱合一”;c)差动共焦曲线(43)过零点处精确对应物镜(10)的焦点O,测量过程中可以实时对被测样品(11)进行精确跟踪定焦,保证被测样品(11)在整个测量过程中始终处于焦点位置,抑制环境温度和振动等因素对光谱测量的影响,从而提高测量精度;d)差动共焦曲线(43)过零点处对应测量物镜(10)焦点O,此处聚焦光斑尺寸最小,探测的区域最小,线性区域BB'其他位置对应物镜(10)的离焦区域,在焦前或焦后BB'区域内的聚焦光斑尺寸随离焦量增大而增大,利用此特点,通过调整样品的z向离焦量,并根据实际测量精度需求来控制聚焦光斑的尺寸,实现对样品探测区域大小可控。
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