[发明专利]铜合金有效
申请号: | 201310029795.4 | 申请日: | 2013-01-25 |
公开(公告)号: | CN103290253A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 宍户久郎;隅野裕也;畚野章 | 申请(专利权)人: | 株式会社神户制钢所 |
主分类号: | C22C9/00 | 分类号: | C22C9/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张宝荣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种强度与导电性的平衡优越,进而强度与弯曲加工性的平衡也优越的铜合金板。本发明的铜合金含有规定量的Cr、Ti、Si,所述Cr与所述Ti的质量比:1.0≤(Cr/Ti)≤30,所述Cr与所述Si的质量比:3.0≤(Cr/Si)≤30,余量由铜及不可避杂质构成,其要旨在于,所述铜合金中所含的Cr、Ti及Si的合计量中的70%以上析出,并且所述铜合金的宽度方向横截面中从所述铜合金表面计算,在厚度方向25μm×横截面方向40μm的区域内由SEM观察的当量圆直径为300nm以上的析出物在50个以下,且在所述铜合金板的表面中由TEM观察的当量圆直径不到300nm的析出物的平均当量圆直径在15nm以下。 | ||
搜索关键词: | 铜合金 | ||
【主权项】:
一种铜合金,以质量%计,其含有Cr:0.10~0.50%、Ti:0.010~0.30%、Si:0.01~0.10%、所述Cr与所述Ti的质量比:1.0≤(Cr/Ti)≤30、所述Cr与所述Si的质量比:3.0≤(Cr/Si)≤30,余量由铜及不可避杂质构成,其特征在于,所述铜合金中含有的Cr、Ti及Si的合计量中的70%以上析出,并且所述铜合金的宽度方向横截面中从所述铜合金表面起算,在厚度方向25μm×横截面方向40μm的区域内由SEM观察到的当量圆直径为300nm以上的析出物在50个以下,且在所述铜合金的表面中由TEM观察到的当量圆直径不到300nm的析出物的平均当量圆直径在15nm以下。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社神户制钢所,未经株式会社神户制钢所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310029795.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:距离图像像素匹配方法
- 下一篇:压控振荡电路