[发明专利]一种有机纯物质中痕量杂质分析装置及分析方法无效
| 申请号： | 201310036515.2 | 申请日： | 2013-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN103149283A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 李明;方向;熊行创;江游;黄泽建;蔡九霄 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 赵宇 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种有机纯物质中痕量杂质分析装置及分析方法。所述装置包括：液相色谱仪、切割阀、基于等离子体的电离源和质谱仪，所述基于等离子体的电离源包括雾化器和电晕放电针；液相色谱仪依次连接切割阀、雾化器、电晕放电针和质谱仪。所述方法包括：样品送入液相色谱仪，依次通过切割阀、基于等离子体的电离源，样品中的杂质被离子化，送入质谱仪分析。本发明采用基于等离子体的化学电离源不仅能够电离极性和弱极性的杂质分子，同时可电离非极性的分子；将主成分切割后的杂质离子进入质谱仪后可进行相应的质量分析，从而获得杂质分子的定性信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 有机 物质 痕量 杂质 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种有机纯物质中痕量杂质分析装置，其特征在于：所述装置包括：液相色谱仪、切割阀、基于等离子体的电离源和质谱仪，所述基于等离子体的电离源包括雾化器和电晕放电针；液相色谱仪依次连接切割阀、雾化器、电晕放电针和质谱仪。
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