[发明专利]多连板检测机台在审

专利信息
申请号: 201310037621.2 申请日: 2013-01-30
公开(公告)号: CN103969521A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 邱毓英;李浩玮;宋柏苇;吴国豪;邱信杰 申请(专利权)人: 全研科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种多连板检测机台,其主要包含有一机座、一位移检测装置、多个Z轴调整装置及一受测平台;所述位移检测装置具有一位移轨道组及一检测微调模块,所述位移轨道组设置于所述机座上,所述检测微调模块设置于所述位移轨道组上,而于所述位移轨道组上进行X轴向及Y轴向的位移,并进行取像对位、对位微调及接触检测,所述的Z轴调整装置设置于所述机座上,以进行Z轴向的往复位移,所述受测平台设置于所述等Z轴调整装置上,具有多个受测凹槽供受测元件放置;以使检测所需的程序及时间皆能大为缩短,更能达到较佳的检测精准度。
搜索关键词: 多连板 检测 机台
【主权项】:
一种多连板检测机台,包括:一机座;一位移检测装置,具有一位移轨道组及一检测微调模块,所述位移轨道组设置于所述机座上,所述检测微调模块具有一基座、多个微调机构,一检测平台、至少一取像单元及一检测探针单元;所述基座设置于所述位移轨道组上,并能够进行往复的滑移,所述的微调机构等间距地设置于所述基座上,并能够进行X轴向及Y轴向的微调位移,所述检测平台设置于所述的微调机构上,以受所述的微调机构所带动而进行X轴向及Y轴向的微调平移,所述取像单元设置于所述基座上,用以进行取像对位,所述检测探针单元设置于所述检测平台上,具有多数能够与外部电子元件进行接触而探测其电性的探针,所述位移检测装置进行X轴向及Y轴向的位移,并进行取像对位、对位微调及接触检测;多个Z轴调整装置,设置于所述机座上,以进行Z轴向的往复位移者;一受测平台,设置于所述的Z轴调整装置上,具有多个受测凹槽。
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