[发明专利]绝缘体上硅射频器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201310041637.0 申请日: 2013-02-01
公开(公告)号: CN103077950A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 钟政;李乐 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/822
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种绝缘体上硅射频器件,包括:硅基衬底;埋氧层,所述埋氧层设置在所述硅基衬底上;器件层,设置在所述埋氧层之异于所述硅基衬底一侧,所述器件层并具有器件区和用于器件隔离的浅沟槽隔离;第一介质层,所述第一介质层覆盖所述器件层;第二介质层,所述第二介质层设置在所述第一介质层之异于所述器件层一侧;以及深埋沟道,所述深埋沟道贯穿设置于所述埋氧层、器件层和第一介质层,并介于所述器件层的浅沟槽隔离之间。本发明所述绝缘体上硅射频器件改善信号传输特性,避免了信号失真,且所述绝缘体上硅射频器件的制造方法简便,成本低,工艺局限性小。
搜索关键词: 绝缘体 射频 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种绝缘体上硅射频器件,其特征在于,所述绝缘体上硅射频器件包括:硅基衬底,所述硅基衬底用于支撑所述绝缘体上硅射频器件;埋氧层,所述埋氧层设置在所述硅基衬底上;器件层,所述器件层为硅层,设置在所述埋氧层之异于所述硅基衬底一侧,所述器件层并具有器件区和用于器件隔离的浅沟槽隔离;第一介质层,所述第一介质层覆盖所述器件层;第二介质层,所述第二介质层设置在所述第一介质层之异于所述器件层一侧;以及,深埋沟道,所述深埋沟道贯穿设置于所述埋氧层、器件层和第一介质层,并介于所述器件层的浅沟槽隔离之间。
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