[发明专利]TDLAS温度校准系统有效
| 申请号： | 201310048162.8 | 申请日： | 2013-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN103175634A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 贾军伟;张书锋;金光远;柴昊;杨力;刘展;张明志 | 申请（专利权）人： | 北京东方计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100086 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | TDLAS温度校准系统，用于实现对TDLAS温度测量的校准，其特征在于，包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统，所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中，所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液，所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。 | ||
| 搜索关键词： | tdlas 温度 校准 系统 | ||
【主权项】：
TDLAS温度校准系统，其特征在于，包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统，所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中，所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液，所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。
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