[发明专利]一种磁控溅射CdTe多晶薄膜太阳能电池的制备方法在审
申请号: | 201310053822.1 | 申请日: | 2013-02-19 |
公开(公告)号: | CN103996609A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | 李辉;刘向鑫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | H01L21/203 | 分类号: | H01L21/203;H01L31/18 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种磁控溅射CdTe多晶薄膜太阳能电池的制备方法,其特征在于:在基底的透明导电多晶薄膜上生长CdS多晶薄膜,停止加热,然后在真空条件下对生长完成后的CdS多晶薄膜进行降温、再升温或者加热保持、或再升温降温的过程,多晶薄膜多晶薄膜再在所制备的CdS多晶薄膜上溅射CdTe多晶薄膜。之后在CdCl2气氛中对所制备的CdS多晶薄膜和CdTe多晶薄膜进行退火处理;最后在经退火处理后的CdTe多晶薄膜上蒸镀导电背电极。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁控溅射 cdte 多晶 薄膜 太阳能电池 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种磁控溅射CdTe多晶薄膜太阳能电池的制备方法,其特征是,所述的制备方法步骤如下:1)在磁控溅射炉放置基底的位置上放置具有透明导电薄膜的基底,通过导电的固定基底的探针,使基底的透明导电薄膜和外加电压设备相连;然后关闭磁控溅射炉的真空室,对所述的真空室抽真空,并对基底加热;2)当真空室背底真空到达10‑3Pa以下,所述的基底温度达到25℃‑1100℃,开始在具有透明导电多晶薄膜的基底上溅射CdS多晶薄膜;当CdS多晶薄膜的厚度达到20nm‑500nm时,停止生长CdS多晶薄膜;然后对生长完成的CdS多晶薄膜在25℃‑1100℃温度范围下保持1min‑72h,或者停止对基底加热,使CdS多晶薄膜降温到室温,然后在室温下保持0‑72h;之后,把基底的位置转移到正对CdTe靶的位置,启动射频电源开始溅射CdTe多晶薄膜,对基片施加偏压+8.8V—‑100V;当CdTe多晶薄膜的厚度达到0.5μm‑10μm时,关闭外加电源停止对基片的偏压,同时关闭射频电源,停止CdTe多晶薄膜的生长,停止对基底加热,使生长了CdS多晶薄膜和CdTe多晶薄膜的基底随炉冷却,然后取出生长了CdS多晶薄膜和CdTe多晶薄膜的基底;3)对步骤2制备的CdS和CdTe多晶薄膜进行CdCl2退火处理;4)在经CdCl2退火处理后的CdTe多晶薄膜表面蒸镀导电背电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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