[发明专利]电子设备和绘制方法无效
| 申请号： | 201310057950.3 | 申请日： | 2013-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN103793080A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 藤井哲也 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G06F3/0354 | 分类号： | G06F3/0354 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 彭里 |
| 地址： | 日本东京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 根据一个实施例，一种设备包括检测第一接触的位置和第二接触的位置的显示器（17A、17B、17C），在所述第一接触的位置中，与物体的接触面积等于或者小于第一阈值，在所述第二接触的位置中，与物体的接触面积等于或者大于第二阈值，校正部（300），校正感测到所述第一接触的位置，以及绘制模块（301），绘制由所述校正模块校正的位置的轨迹、和所述第一接触的所述位置的轨迹中的至少一个。校正部通过使用是否感测到所述第二接触、以及所述第一接触和所述第二接触之间的位置关系中的至少一个，来校正感测到所述第一接触的所述位置。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 绘制 方法 | ||
【主权项】：
一种电子设备，其特征在于，包含：被配置为能够检测第一接触的位置和第二接触的位置的显示器，在所述第一接触的位置中，与物体的接触面积等于或者小于第一阈值，在所述第二接触的位置中，与物体的接触面积等于或者大于第二阈值，所述第二阈值等于或者大于所述第一阈值；校正部，被配置为校正感测到所述第一接触的位置；以及绘制模块，被配置为绘制由所述校正模块校正的位置的轨迹、和所述第一接触的所述位置的轨迹中的至少一个，其中，所述校正部被配置为，通过使用是否感测到所述第二接触、以及所述第一接触和所述第二接触之间的位置关系中的至少一个，来校正感测到所述第一接触的所述位置。
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