[发明专利]二氧化硅溶液制备方法、研磨液及玻璃基板的制造方法有效
申请号: | 201310058694.X | 申请日: | 2013-02-25 |
公开(公告)号: | CN103396763A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 志田德仁;木村宏;玉田稔 | 申请(专利权)人: | 旭硝子株式会社 |
主分类号: | C09K3/14 | 分类号: | C09K3/14;G11B5/84 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 王海川;穆德骏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供二氧化硅溶液制备方法、研磨液及玻璃基板的制造方法。一种二氧化硅溶液制备方法,其为将异物从含有一次粒径为1~80nm的二氧化硅粒子的二氧化硅溶液中除去的二氧化硅溶液制备方法,其中,对离心加速度G、沉降距离与沉降时间之比h/t和上述溶液的粘度η进行控制,以使被除去的异物的粒径Dp为0.1~1μm;一种研磨液,在磁记录介质用玻璃基板的主平面的研磨中使用,其中,含有通过使被除去的异物的粒径Dp为0.1~1μm的二氧化硅溶液制备方法制备的二氧化硅溶液;以及一种磁记录介质用玻璃基板的制造方法,其中,具有使用该研磨液对主平面进行研磨的工序。 | ||
搜索关键词: | 二氧化硅 溶液 制备 方法 研磨 玻璃 制造 | ||
【主权项】:
一种二氧化硅溶液制备方法,从含有一次粒径为1~80nm的二氧化硅粒子的二氧化硅溶液中除去异物,其特征在于,对离心加速度G、异物的沉降距离与沉降时间之比(h/t)和所述二氧化硅溶液的粘度η进行控制,以使由下式(1)表示的、要除去的异物的粒径Dp为0.1×1‑41×10‑4cm,Dp=[18h·η/{(ρp‑ρf)G·t}]1/2…(1)其中,式(1)中,Dp为异物的粒径(cm),h为异物的沉降距离(cm),η为溶液在处理温度下的粘度(g/cm·s),ρp为异物的密度(g/cm3),ρf为溶剂的密度(g/cm3),G为离心加速度(cm/s2),t为异物的沉降时间(s)。
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