[发明专利]一种金属氧化物薄膜晶体管的制备方法无效

专利信息
申请号: 201310058921.9 申请日: 2013-02-26
公开(公告)号: CN103177969A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 李倩;李喜峰;信恩龙;张建华 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 陆聪明
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种金属氧化物薄膜晶体管的制备方法,包括在绝缘衬底上生长第一导电层,通过光刻刻蚀获得栅电极;在所述的栅电极上生长绝缘层;随后涂布有源层,通过光刻刻蚀技术获得有源岛。最后,沉积第二导电层,通过光刻刻蚀技术获得源、漏电极。采用光照对溶液法制备的薄膜进行处理,可以明显降低薄膜的热处理温度,可实现低温形成金属氧化物。
搜索关键词: 一种 金属 氧化物 薄膜晶体管 制备 方法
【主权项】:
一种金属氧化物薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,具有以下的步骤:1)在绝缘基板(101)上沉积第一导电层(102),在所述第一导电层(102)上涂布光刻胶;利用第一道掩膜板,通过曝光、刻蚀以及剥离形成栅电极(102a);2)在所述栅电极(102a)上沉积绝缘层(103);3)制备有源层所需溶液,根据所要制备氧化物,选取合适的原料、溶剂以及稳定剂;在所述绝缘层(103)上采用溶液薄膜制备法制备有源层(104);4)采用紫外LED灯(106)对有源层(104)进行光照处理,在紫外光子的诱发下,形成氧化物及伴随产物;伴随产物挥发则得到致密的金属氧化物薄膜,得到氧化物有源层(104a);5)在所述的氧化物有源层(104a)上涂布光刻胶;利用第二道掩膜板,通过曝光、显影、刻蚀以及剥离形成氧化物有源层岛(104b);6)在所述氧化物有源层岛(104b)上沉积第二导电层(107),在所述第二导电层(107)上涂布光刻胶,利用第三道掩膜板,通过曝光、显影、刻蚀形成源极电极(107a)和漏极电极(107b),制得金属氧化物薄膜晶体管。
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