[发明专利]配光特性测量装置和配光特性测量方法有效
| 申请号： | 201310058976.X | 申请日： | 2013-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN103364177B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 江南世志 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测量光源的配光特性的配光特性测量装置和配光特性测量方法。配光特性测量装置包括以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器。一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复。配光特性测量装置还包括驱动单元，其将多个检测器作为一体来进行驱动，由此更新多个检测器相对于光源的位置关系；以及计算单元，其根据由多个检测器在相同的时刻获取到的各个检测结果，进行与多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理，计算光源的配光特性。 | ||
| 搜索关键词： | 特性 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种配光特性测量装置，用于测量光源的配光特性，具备以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器，一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复，该配光特性测量装置还具备：驱动单元，其将上述多个检测器作为一体来进行驱动，由此更新上述多个检测器相对于上述光源的位置关系；以及计算单元，其根据上述多个检测器在相同时刻获取到的各个检测结果，进行与上述多个检测器的相对关系和检测范围的重复两者之中的至少一方相应的处理，计算上述光源的配光特性，其中，上述多个检测器配置成各自的光轴方向朝向预先决定的基准点并且各个检测范围实质上一致，上述计算单元将第一检测器在某一时刻获取到的第一检测结果与上述第一检测器的位置信息相关联地保存，并且将第二检测器在该时刻获取到的第二检测结果与根据第一检测器和第二检测器之间的相对关系对上述第一检测器的位置信息进行校正而得到的位置信息相关联地保存。
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