[发明专利]一种芯片及测试该芯片的方法

摘要

本发明实施例提供一种芯片及测试该芯片的方法，所述方法包括：所述第一发送装置接收所述测试装置发送的第一测试信号，将其转换成第二测试信号，并将所述第二测试信号发送到所述芯片外部；所述第一接收装置接收所述第二测试信号，并将其转发至所述第二发送装置；所述第二发送装置接收所述第二测试信号，将所述第二测试信号转换成第三测试信号，并将其发送到所述芯片外部；所述第二接收装置接收所述第三测试信号，并将其返回至所述测试装置；所述测试装置比较所述第三测试信号与所述第一测试信号是否一致，如果是，则所述芯片功能和性能正确。这样测试信号在芯片外部形成回路，可以采用一条测试路径测试多个装置的功能和性能是否正确。

主权项

一种芯片，其特征在于，所述芯片包括：第一接收装置，用于通过所述芯片上的第一引脚和第二引脚从所述芯片外部接收第一信号，并转发该第一信号；第二发送装置，用于接收所述第一接收装置发送的第一信号，将该第一信号转换成第二信号，并通过所述芯片上的第三引脚和第四引脚将该第二信号发送至所述芯片外部；第二接收装置，用于通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚从所述芯片外部接收第三信号，并将该第三信号转发；第一发送装置，用于接收所述第二接收装置发送的第三信号、将第三信号转换成第四信号，并通过所述芯片上的所述第一引脚和第二引脚将该第四信号发送至所述芯片外部。