[发明专利]量测控制系统及方法

摘要

本发明提供一种量测控制系统，应用于与影像量测机台及控制器电连接的计算装置。控制器与安装在影像量测机台Z轴上的传感器电连接。控制器发射出一束多色光并传输至传感器。传感器对多色光进行光谱色散后形成不同波长的光谱信号发射至待测产品上的测量点。传感器接收待测产品反射回来的光谱信号并传输给控制器进行光谱分析，得到光谱信号数据并传输给量测控制系统。量测控制系统对光谱信号数据进行分析、计算，产生光谱信号强度分布图，根据该光谱信号强度分布图中的波形峰值的大小、变化发送控制指令至影像量测机台调整传感器在Z轴上的位置，以将测量点调整到传感器的有效量测范围之内。本发明还提供一种量测控制方法。

主权项

一种量测控制方法，应用于计算装置，该计算装置与影像量测机台及控制器电连接，控制器与安装在影像量测机台Z轴上的传感器电连接，待测产品放置于量测平台，其特征在于，该方法包括：参数设置步骤：接收用户输入的待测产品上的测量点在机械坐标系中的坐标信息，并设置传感器量测光谱信号的强度阀值；驱动步骤：根据测量点在机械坐标系中的坐标信息发送驱动指令至影像量测机台，以驱动传感器移动至测量点上方；接收步骤：接收控制器分析待测产品反射回的光谱信号得到的光谱信号数据；计算步骤：根据光谱信号数据计算传感器的有效量测范围；绘制步骤：根据接收到的光谱信号数据实时绘制光谱信号强度分布图；判断步骤：根据光谱信号强度分布图中的波形峰值是否低于所述阀值判断所述测量点是否位于传感器的有效量测范围之内；及控制步骤：若光谱信号强度分布图中的波形峰值低于所述阀值，则发送控制指令至影像量测机台以调整传感器在Z轴的位置，直至光谱信号强度分布图中的波形峰值等于或高于所述阀值。