[发明专利]低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统在审
| 申请号： | 201310068709.0 | 申请日： | 2013-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN104007334A | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 张博钧;杨子安;曹珺飞;张运转;马守健 | 申请（专利权）人： | 深圳电信研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室、低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机；高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机；其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。所要解决的技术问题是低频和高频不能同时测试。 | ||
| 搜索关键词： | 低频 高频 同时 测试 电磁 骚扰 系统 | ||
【主权项】：
低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室，其特征在于：还包括低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机；高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机；其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。
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