[发明专利]一种用改进化学镀工艺在多孔硅表面制备金属电极的方法有效
申请号: | 201310077692.5 | 申请日: | 2013-03-12 |
公开(公告)号: | CN103151424A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 李伟;余峰;王垠;廖家科;郭安然;蒋亚东 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C18/36 |
代理公司: | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐丰;杨保刚 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种用改进化学镀工艺在多孔硅表面制备金属电极的方法,涉及半导体光电子材料与器件技术领域,其包括以下步骤:①多孔硅表面化学镀前处理;②采用化学镀工艺;③对含金属电极的多孔硅进行干燥处理;④对含金属电极的多孔硅进行快速退火处理;⑤采用光刻工艺将金属电极刻蚀成指定电极形状,完成电极制备。本发明利用化学镀的自催化镀膜原理,通过改良的化学镀工艺,以多孔硅独特的多孔面为基础,在不采用敏化活化工艺的前提下完成多孔硅的化学镀,在多孔硅表面形成一层附着力良好、结合强度高的金属电极,能提高金属电极与多孔硅表面的结合力、降低接触电阻。 | ||
搜索关键词: | 一种 改进 化学 工艺 多孔 表面 制备 金属电极 方法 | ||
【主权项】:
一种用改进化学镀工艺在多孔硅表面制备金属电极的方法,其特征在于,包括以下步骤:①多孔硅表面化学镀前处理:首先采用HF水溶液去除多孔硅表面氧化层,然后用去离子水清洗;②采用化学镀工艺:在经①化学镀前处理的多孔硅表面上沉积一层金属电极,所述金属电极成分为Ni‑P合金或Ni‑B合金,厚度为0.5~2μm;③对含金属电极的多孔硅进行干燥处理;④对含金属电极的多孔硅进行快速退火处理;⑤采用光刻工艺将金属电极刻蚀成指定电极形状,完成电极制备。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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