[发明专利]专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法有效
| 申请号： | 201310081613.8 | 申请日： | 2013-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN103175857A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 谢亚宁;张静;张久昶;宋冬燕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 石海霞;郑特强 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法，其中该装置包括：用于产生掠入射XAFS实验所需的X射线的装置；前狭缝，限定X射线的尺寸；第一升降台，使前狭缝在垂直方向上升降；样品架，承载样品；旋转台，使得样品架上的样品转动，以获得所需的X射线掠入射角度；第二升降台，使得旋转台在垂直方向上升降；后狭缝，限定全反射X射线的尺寸；第三升降台，使得所述后狭缝在垂直方向上升降；第一探测器，探测从样品发出的荧光信号；第二探测器，探测全反射X射线信号。采用该装置及方法，能够快速精确地设定样品初始位置，而且能够精确地调整样品角度，并以高信噪比获取样品的实验探测数据，获得高质量的掠入射XAFS实验谱。 | ||
| 搜索关键词： | 专用 入射 xafs 实验 装置 及其 调整 方法 | ||
【主权项】：
一种专用于掠入射XAFS实验的装置，包括：用于产生所述掠入射XAFS实验所需的X射线的装置；前狭缝，用于限定所述用于产生所述掠入射XAFS实验所需的X射线的装置发出的X射线的尺寸；第一升降台，用于安装所述前狭缝，并使所述前狭缝在与所述X射线的光轴方向垂直的方向上升降；样品架，用于承载样品，所述样品的表面与从所述前狭缝出射的X射线相互作用；旋转台，用于安装所述样品架，并使得所述样品架上的样品转动，以获得所需的X射线掠入射角度；第二升降台，用于安装所述旋转台，并使得所述旋转台在与所述X射线的光轴方向垂直的方向上升降；后狭缝，用于限定与所述样品的表面相互作用后的全反射X射线的尺寸；第三升降台，用于安装所述后狭缝，并使得所述后狭缝在与所述X射线垂直的方向上升降；基座升降部，用于安装所述第一升降台、所述第二升降台和所述第三升降台，使得所述第一升降台、第二升降台和所述第三升降台同时在与所述X射线的光轴方向垂直的方向上升降；第一探测器，用于探测从所述样品发出的荧光信号；第二探测器，用于探测从所述后狭缝出射的X射线信号。
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