[发明专利]一种存储器擦除的方法和装置有效
| 申请号： | 201310084243.3 | 申请日： | 2013-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN104051012B | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 张现聚;丁冲;苏志强;程莹 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/14 | 分类号： | G11C16/14;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司11319 | 代理人： | 赵娟 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储器擦除的方法和装置，所述方法包括对目标擦除块进行预编程操作；施加第一擦除脉冲对经过预编程操作的目标擦除块进行第一擦除操作；对所述目标擦除块进行第一过擦除验证操作；对所述目标擦除块进行第一擦除验证操作；判断所述第一擦除验证操作是否成功；施加第二擦除脉冲对所述经过预编程操作的目标擦除块进行第二擦除操作；对所述目标擦除块进行第二过擦除验证操作；对所述目标擦除块进行第二擦除验证操作；判断所述第二擦除验证操作是否成功；对所述目标擦除块进行第三过擦除验证操作。本发明不仅极大降低了过擦除风险，而且缩短了过擦除修复所需的大量时间，提高了存储器的擦除可靠性和速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 擦除 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器擦除的方法，其特征在于，包括：步骤101，对目标擦除块进行预编程操作；步骤102，施加第一擦除脉冲对经过预编程操作的目标擦除块进行第一擦除操作；步骤103，对所述目标擦除块进行第一过擦除验证操作；步骤104，判断所述施加第一擦除脉冲的次数是否达到最大预设的第一擦除次数；若是，则执行步骤112，若否，则执行步骤105；步骤105，对所述目标擦除块进行第一擦除验证操作；步骤106，判断所述第一擦除验证操作是否成功；若是，则执行步骤107，若否，则返回步骤102；步骤107，施加第二擦除脉冲对所述经过预编程操作的目标擦除块进行第二擦除操作；步骤108，对所述目标擦除块进行第二过擦除验证操作；步骤109，判断施加第二擦除脉冲的次数是否达到最大预设的第二擦除次数；若是，则执行步骤112，若否，则执行步骤110；步骤110，对所述目标擦除块进行第二擦除验证操作；步骤111，判断所述第二擦除验证操作是否成功；若是，则执行步骤112，若否，则返回步骤107；步骤112，对所述目标擦除块进行第三过擦除验证操作；其中，在所述第一擦除操作中施加的第一擦除脉冲的强度，大于在所述第二擦除操作中施加的第二擦除脉冲的强度；和/或，所述在第一擦除操作中施加第一擦除脉冲的时间，大于或等于在所述第二擦除操作中施加的第二擦除脉冲的时间。
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