[发明专利]用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法有效

专利信息
申请号: 201310087023.6 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN104062318A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 王汉夫;官爱强;褚卫国;郭延军;金灏;熊玉峰 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: G01N25/48 分类号: G01N25/48;G01R27/14
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 南毅宁;肖冰滨
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于测量样品的热电性能的样品座以及测量方法,其有助于提高热电性能测量的可靠性,该样品座包括基座(2)、绝缘垫片(3)、两个第一压块(4)、两个第二压块(5)、两个第三压块(6)和两个温差加热器(7和7′),其中:基座(2)上铺设绝缘垫片(3),两个第一压块(4)间隔安装在绝缘垫片(3)上,两个第二压块(5)分别位置相对地叠压在所述两个第一压块(4)上,被测样品(8)悬置并且两端分别固定在所述第一压块(4)与第二压块(5)之间,两个第三压块(6)分别位置相对地叠压在两个第二压块(5)上,各个第二压块(5)与第三压块(6)之间分别放置一个温差加热器(7或7′)。
搜索关键词: 用于 测量 样品 热电 性能 测量方法
【主权项】:
一种用于测量样品的热电性能的样品座,该样品座包括基座(2)、绝缘垫片(3)、两个第一压块(4)、两个第二压块(5)、两个第三压块(6)和两个温差加热器(7和7′),其中:所述基座(2)上铺设所述绝缘垫片(3),所述两个第一压块(4)间隔安装在所述绝缘垫片(3)上,所述两个第二压块(5)分别位置相对地叠压在所述两个第一压块(4)上,被测样品(8)悬置并且两端分别固定在所述第一压块(4)与所述第二压块(5)之间,所述两个第三压块(6)分别位置相对地叠压在所述两个第二压块(5)上,各个所述第二压块(5)与所述第三压块(6)之间分别放置一个所述温差加热器(7或7′)。
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