[发明专利]用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法有效
申请号: | 201310087023.6 | 申请日: | 2013-03-19 |
公开(公告)号: | CN104062318A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 王汉夫;官爱强;褚卫国;郭延军;金灏;熊玉峰 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01N25/48 | 分类号: | G01N25/48;G01R27/14 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 南毅宁;肖冰滨 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种用于测量样品的热电性能的样品座以及测量方法,其有助于提高热电性能测量的可靠性,该样品座包括基座(2)、绝缘垫片(3)、两个第一压块(4)、两个第二压块(5)、两个第三压块(6)和两个温差加热器(7和7′),其中:基座(2)上铺设绝缘垫片(3),两个第一压块(4)间隔安装在绝缘垫片(3)上,两个第二压块(5)分别位置相对地叠压在所述两个第一压块(4)上,被测样品(8)悬置并且两端分别固定在所述第一压块(4)与第二压块(5)之间,两个第三压块(6)分别位置相对地叠压在两个第二压块(5)上,各个第二压块(5)与第三压块(6)之间分别放置一个温差加热器(7或7′)。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 样品 热电 性能 测量方法 | ||
【主权项】:
一种用于测量样品的热电性能的样品座,该样品座包括基座(2)、绝缘垫片(3)、两个第一压块(4)、两个第二压块(5)、两个第三压块(6)和两个温差加热器(7和7′),其中:所述基座(2)上铺设所述绝缘垫片(3),所述两个第一压块(4)间隔安装在所述绝缘垫片(3)上,所述两个第二压块(5)分别位置相对地叠压在所述两个第一压块(4)上,被测样品(8)悬置并且两端分别固定在所述第一压块(4)与所述第二压块(5)之间,所述两个第三压块(6)分别位置相对地叠压在所述两个第二压块(5)上,各个所述第二压块(5)与所述第三压块(6)之间分别放置一个所述温差加热器(7或7′)。
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