[发明专利]用于对量子计数的X射线探测器进行能量校准的方法有效

专利信息
申请号: 201310087107.X 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN103323872A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: M.艾肯西尔;S.卡普勒;E.克拉夫特;B.克莱斯勒;D.尼德罗纳;S.沃思 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于对在X射线设备中的量子计数的X射线探测器进行能量校准的方法。在该方法中如下地在第一X射线源(1)和第一X射线探测器(2)之间定位用于产生X射线荧光辐射的标靶(6)并且利用第一X射线源(1)的X射线辐射辐照该标靶:使得通过第一X射线源(1)的X射线辐射产生X射线荧光辐射,该X射线荧光辐射从所述标靶(6)出发击中第二X射线探测器(4)。然后利用所述标靶(6)的X射线荧光辐射实施第二X射线探测器(4)的能量校准。以相同的方式借助第二X射线源(3)的X射线辐射进行第一X射线探测器(2)的能量校准。通过所建议的方法可以在系统接近的条件下以小的开销校准双源CT-X射线设备的X射线探测器。
搜索关键词: 用于 量子 计数 射线 探测器 进行 能量 校准 方法
【主权项】:
一种用于对在X射线设备中的量子计数的X射线探测器进行能量校准的方法,该X射线设备具有至少两个可围绕旋转中心转动的X射线系统,所述X射线系统在转动方向上相互错开一个角度地布置,并且其中第一X射线系统具有第一X射线源(1)和相对布置的第一X射线探测器(2)而第二X射线系统具有第二X射线源(3)和相对布置的第二X射线探测器(4),其中‑如下地在第一X射线源(1)和第一X射线探测器(2)之间定位用于产生X射线荧光辐射的标靶(6)并且利用第一X射线源(1)的X射线辐射辐照该标靶:使得通过第一X射线源(1)的X射线辐射产生X射线荧光辐射,该X射线荧光辐射从所述标靶(6)出发击中第二X射线探测器(4),并且‑利用所述标靶(6)的X射线荧光辐射实施第二X射线探测器(4)的能量校准。
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