[发明专利]弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪无效

专利信息
申请号: 201310096076.4 申请日: 2013-03-22
公开(公告)号: CN103234635A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 陈友华;陈媛媛;王召巴;王志斌;王立福;张瑞;王艳超;魏海潮 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45
代理公司: 山西五维专利事务所(有限公司) 14105 代理人: 李印贵
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明公开了一种能够实现高速扫描的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪,包括扫描镜、入射光瞳、由球面镜、非球面镜及视场光阑组成的离轴三反望远镜、弹光调制型干涉仪。来自目标的入射光线经扫描反射镜反射后,经入射光瞳进入离轴三反望远镜,光线经离轴三反望远镜反射、聚焦、缩束并准直后进入弹光调制干涉仪进行双折射干涉调制,最后通过逐点扫描完成光谱成像。本发明公开的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪具有成像扫描速度高、抗振动能力强、不受探测器像元限制及光谱分辨率和光通量高等优点。
搜索关键词: 调制 傅里叶变换 干涉 成像 光谱仪
【主权项】:
弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪,其特征在于:包括扫描反射镜(1)、入射光瞳(2)、离轴三反望远镜、视场光阑(5)、弹光调制型干涉仪;其中:离轴三反望远镜包括球面镜(3)和一对非球面镜(4、6);弹光调制型干涉仪包括起偏器(7)、静态双折射晶体(8)、弹光调制器(9)、检偏器(11)、成像反射镜(12)及探测器(13),其中:弹光调制器(9)又包括压电石英驱动器、弹光晶体及高反射率膜;来自目标的入射光线经扫描反射镜反射后,经入射光瞳选择一定视场角范围的光进入离轴三反望远镜,光线经离轴三反望远镜反射、聚焦、缩束并准直后进入弹光调制干涉仪进行双折射干涉调制:弹光调制干涉仪的起偏器和检偏器对入射光进行起偏,然后由静态双折射晶体产生特定大小的静态光程差,再由弹光调制器对入射的偏振光进行人工双折射干涉调制,产生干涉条纹,最后成像反射镜将调制后的干涉光聚焦至探测器的光敏面处完成光谱成像。
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