[发明专利]一种测量参考节点位置的方法、装置及系统有效
申请号: | 201310100380.1 | 申请日: | 2013-03-26 |
公开(公告)号: | CN104076325B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 周波;黄新华;杨艳 | 申请(专利权)人: | 日电(中国)有限公司 |
主分类号: | G01S5/00 | 分类号: | G01S5/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 张耀光 |
地址: | 100191 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种测量参考节点位置的方法、装置及系统,属于计算机领域。所述方法包括当信号接收装置在第一坐标系的一坐标轴上滑动并分多次接收信号发射装置发射的发射信号时,获取所述信号接收装置每次接收所述发射信号时在所述第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离;根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在标准坐标系中的位置。所述装置包括第一获取模块和第二获取模块。所述系统包括信号发射装置和信号接收装置。本发明能够提高测量参考节点位置的精度和效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 参考 节点 位置 方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种通过用于测量参考节点位置的系统来测量参考节点位置的方法,其特征在于,所述系统包括:信号发射装置和信号接收装置;所述信号发射装置安装在待测量的参考节点上;所述信号接收装置沿第一坐标系的一坐标轴滑动,并在滑动时分多次接收所述信号发射装置发射的发射信号;所述方法包括:当信号接收装置在第一坐标系的一坐标轴上滑动并分多次接收信号发射装置发射的发射信号时,获取所述信号接收装置每次接收所述发射信号时在所述第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离;根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点的位置;如果获取到一个位置,则将获取的一个位置确定为所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置;如果获取到多个位置,则计算获取的多个位置的平均位置,将所述平均位置确定为所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置;根据所述第一坐标系中的位置与标准坐标系中的位置之间的转换关系,将所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置转换为在所述标准坐标系中的位置。
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