[发明专利]对于双源CT设备具有散射校正的用于重建CT图像的方法有效
申请号: | 201310100993.5 | 申请日: | 2013-03-27 |
公开(公告)号: | CN103356222A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | M.彼得希尔卡;K.斯蒂尔斯托弗 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G06T5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明是对于双源CT设备具有散射校正的用于重建CT图像的方法。涉及一种用于从测量数据中重建检查对象的图像数据(PIC1)的方法,其中在计算机断层造影系统的射线源与检查对象之间相对旋转运动的情况下采集(MEAS)测量数据。从测量数据中重建检查对象的第一图像数据(PIC0)。从第一图像数据中在使用散射模型(MOD)的条件下计算散射信号(STREU),其中散射模型(MOD)对于散射点,取决于与散射的射线从散射点到特定的检测器元件的衰减积分相应的线积分,说明了取决于角度的散射分布。将计算的散射信号(STREU)用于校正(KOR)测量数据,并且在使用校正的测量数据的条件下重建第二图像数据(PIC1)。 | ||
搜索关键词: | 对于 ct 设备 具有 散射 校正 用于 重建 图像 方法 | ||
【主权项】:
一种用于从测量数据(p)中重建检查对象(O)的图像数据(PIC1)的方法,其中,在计算机断层造影系统(C1)的射线源(C2,C4)与检查对象(O)之间相对旋转运动的情况下采集(MEAS)所述测量数据(p),从所述测量数据(p)中重建检查对象(O)的第一图像数据(PIC0),从所述第一图像数据(PIC0)中在使用散射模型(MOD)的条件下计算散射信号(STREU),其中,所述散射模型(MOD)对于散射点,取决于与散射的射线从散射点到特定的检测器元件的衰减积分相应的线积分,说明了取决于角度的散射分布,将所计算的散射信号(STREU)用于校正(KOR)测量数据(p),在使用校正后的测量数据(p)的条件下重建第二图像数据(PIC1)。
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