[发明专利]一种CMOS图像传感器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310104808.X 申请日: 2013-03-28
公开(公告)号: CN103151365A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 陈多金;唐冕;陈杰;旷章曲 申请(专利权)人: 北京思比科微电子技术股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种CMOS图像传感器及其制造方法,其中,该传感器包括:基底及位于基底上方的像素单元;所述像素单元包括:阴性金属氧化物半导体NMOS管及感光二极管;所述NMOS管的源极和漏极及所述感光二极管的感光区为阴性N型注入层,所述NMOS管与感光二极管通过阳性P型注入层连为一体,且所述P型注入层与所述NMOS管及感光二极管中的N型注入层形成PN结;所述像素单元通过PN结及设置在基底上部的P型掩埋层与所述基底连为一体。通过使用本发明公开的CMOS图像传感器提高了灵敏度高及成像质量,降低了暗电流。
搜索关键词: 一种 cmos 图像传感器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种CMOS图像传感器,其特征在于,包括:基底及位于基底上方的像素单元;所述像素单元包括:阴性金属氧化物半导体NMOS管及感光二极管;所述NMOS管的源极和漏极及所述感光二极管的感光区为阴性N型注入层,所述NMOS管与感光二极管通过阳性P型注入层连为一体,且所述P型注入层与所述NMOS管及感光二极管中的N型注入层形成PN结;所述像素单元通过PN结及设置在基底上部的P型掩埋层与所述基底连为一体。
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