[发明专利]胶层厚度测量方法有效
| 申请号： | 201310109757.X | 申请日： | 2013-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN103217137A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 李禹 | 申请（专利权）人： | 东莞市三文光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 田利琼 |
| 地址： | 523826*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及测量方法技术领域，特别是在生产胶带过程中测量胶层厚度的一种胶层厚度测量方法；通过从原膜上裁剪出原膜片再把所述原膜片，粘附于离型纸或离型膜带胶表面，接着扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片，再测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，即可得到胶层厚度，本发明的测量方法，适用于随机检测，在检测过程中不需停机，且由于不需要采用传统的割口的方法，因此可有效防止材料跑偏，导致双面胶打皱的问题，有效提高了工作效率和产品的成品率。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种胶层厚度测量方法，其特征在于：所述测量方法包括以下步骤：（1）、取出部分原膜，把所述原膜裁剪为原膜片；（2）、把所述原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面；（3）、扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片；（4）、测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，得到胶层厚度。
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