[发明专利]芯片筛选测试机及其测试方法有效
| 申请号： | 201310110809.5 | 申请日： | 2013-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN103197229A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 方波 | 申请（专利权）人： | 方波 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430034 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明的筛选测试机及其测试方法，包括连接在所述微控制单元上的多个测试电路；所述微控制单元分别对目标芯片和测试芯片的管脚输入脉冲激励信号，得到目标芯片在脉冲激励信号下的第一响应曲线，和测试芯片在脉冲激励信号下的第二响应曲线；所述微控制单元通过比较第一响应曲线和第二响应曲线的差异，判断所述目标芯片和测试芯片是否存的复阻抗差异。本发明通过比对目标芯片和测试芯片，可分辨出被测芯片是否是别假芯片、翻新芯片、损坏芯片；得到不同管脚的响应曲线是采用脉冲激励信号，整个筛选测试机的结构简单，成本低，筛选精确。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 筛选 测试 及其 方法 | ||
【主权项】：
筛选测试机，包括微控制单元，其特征在于，还包括连接在所述微控制单元上的多个测试电路；所述测试电路包括限流电阻R、ADC和DAC，所述限流电阻R连接至ADC输入端和DAC输出端 ，所述ADC输出端连接所述微控制单元，所述DAC输入端连接所述微控制单元；所述限流电阻R连接被测试芯片的管脚；所述微控制单元分别对目标芯片和测试芯片的管脚输入脉冲激励信号，得到目标芯片在脉冲激励信号下的第一响应曲线，和测试芯片在脉冲激励信号下的第二响应曲线；所述微控制单元通过比较第一响应曲线和第二响应曲线的差异，判断所述目标芯片和测试芯片是否存的复阻抗差异。
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