[发明专利]封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201310117201.5 申请日: 2013-04-07
公开(公告)号: CN104103604A 公开(公告)日: 2014-10-15
发明(设计)人: 邱梧森 申请(专利权)人: 力成科技股份有限公司;聚成科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/56;H01L25/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种封装结构,包括一载体、至少一芯片、至少一第一导胶槽、至少一第二导胶槽以及一底胶。载体具有一承载表面。芯片配置在载体的承载表面上,且具有彼此相对的一主表面与一背表面以及多个硅穿孔。主表面面对承载表面,且硅穿孔贯穿背表面及主表面而连接至承载表面。第一导胶槽配置在载体的承载表面上。第二导胶槽配置在载体的承载表面上,且与第一导胶槽彼此相交。底胶填充到载体与芯片之间,且填满第一导胶槽与第二导胶槽。
搜索关键词: 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种封装结构,其特征在于,包括:一载体,具有一承载表面;至少一芯片,配置在该载体的该承载表面上,且具有彼此相对的一主表面与一背表面以及多个硅穿孔,其中该主表面面对该承载表面,且该些硅穿孔贯穿该背表面及该主表面而连接至该承载表面;至少一第一导胶槽,配置在该载体的该承载表面上;至少一第二导胶槽,配置在该载体的该承载表面上,且与该第一导胶槽彼此相交;以及一底胶,填充到该载体与该芯片之间,且填满该第一导胶槽与该第二导胶槽。
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