[发明专利]具有硅通孔内连线的半导体封装有效
申请号: | 201310120374.2 | 申请日: | 2013-04-09 |
公开(公告)号: | CN103378034A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 杨明宗;黄裕华;黄伟哲 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人: | 于淼;杨颖 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种具有硅通孔内连线的半导体封装。上述具有硅通孔内连线的半导体封装包括半导体基板,其具有前侧和后侧;接触孔插塞阵列,设置于半导体基板的前侧;隔绝结构,设置于半导体基板中,且位于接触孔插塞阵列下方;以及硅通孔内连线,穿过半导体基板,且与接触孔插塞阵列和隔绝结构重叠。本发明所提供的具有硅通孔内连线的半导体封装,能得到具有平滑底部的硅通孔开口,因而可以避免产生现有硅通孔内连线的铜扩散问题。 | ||
搜索关键词: | 具有 硅通孔内 连线 半导体 封装 | ||
【主权项】:
一种具有硅通孔内连线的半导体封装,包括:半导体基板,其具有前侧和后侧;接触孔插塞阵列,设置于所述半导体基板的所述前侧上;隔绝结构,设置于所述半导体基板中,且位于所述接触孔插塞阵列下方;以及硅通孔内连线,穿过所述半导体基板,且与所述接触孔插塞阵列和所述隔绝结构重叠。
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