[发明专利]RFID标签芯片验证系统及验证方法

摘要

本发明涉及一种RFID标签芯片验证系统及验证方法。所述验证系统采用分层结构，自下至上方式搭建各层，包括：信号层（1），命令层（2），功能层（3），场景层（4）及测试层（5）。本发明的验证系统及验证方法不仅能对单个命令进行验证，也能对特定的和随机的命令流进行验证，并自动检查验证结果。本发明验证系统的层次结构保证了代码重用性，解决了RFID标签芯片验证充分性的问题，同时提高了验证效率。

主权项

一种RFID标签芯片验证系统，所述验证系统包括：信号层（1），包括连接到待验证标签芯片的标签芯片接口（10）和虚拟接口（11），其中EEPROM接口读写信号传输到EEPROM验证IP（13），其它输入输出信号利用虚拟接口（11）传输到总线功能模块（12）以及命令层监视器模块（14）；命令层（2），包括总线功能模块（12）、EEPROM验证IP（13）和命令层监视器（14），其中总线功能模块（12）的输入来自驱动器（15），输出连接到虚拟接口（11），EEPROM验证IP（13）的输入输出只与标签芯片接口（10）相连，命令层监视器（14）的输入来自虚拟接口（11），输出连接到响应监视器（18）；功能层（3），包括驱动器（15）、标签参考模块（16）、检查器（17）和响应监视器（18），驱动器（15）的输入为激励发生器（19），输出给标签参考模块（16）、响应监视器（18）以及总线功能模块（12），标签参考模块（16）的输入来自驱动器（15）以及命令响应模块（21），输出连接到检查器（17），检查器（17）的输入来自标签参考模块（16）、命令响应模块（21）和响应监视器（18）；场景层（4），包括激励发生器（19）和命令响应模块（21）；测试层（5），包括测试案例（20）。