[发明专利]一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置无效
| 申请号： | 201310123964.0 | 申请日： | 2013-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN104103489A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 唐紫超;史磊;吴小虎;王兴龙;任文峰;李刚;张世宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40;G01N27/64 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置，该装置包括进样口，电离室，离子源和原位热解装置，质量分析器，接收器，数据系统，供电系统及真空系统；进样口直接引入离子源和原位热解装置中，离子源和原位热解装置在电离室中，电离室紧靠质量分析器；接收器在质量分析器中，通过数据线与数据系统相连，在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体，质谱分辨率可达到5000，具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气体的分析检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 飞行 时间 原位 程序 升温 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置，其特征在于：该装置包括进样口，电离室，离子源和原位热解装置，质量分析器，接收器，数据系统，供电系统及真空系统；进样口直接引入离子源和原位热解装置中，离子源和原位热解装置在电离室中，电离室紧靠质量分析器；接收器在质量分析器中，通过数据线与数据系统相连，在电离室和质量分析器中加入真空系统。
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