[发明专利]深度受温度控制的释放层的制造方法无效
申请号: | 201310130951.6 | 申请日: | 2013-04-16 |
公开(公告)号: | CN103377879A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | M·M·卡亚特;N·E·索萨科提斯;S·W·比德尔;K·E·福格尔;D·K·萨达那 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司;阿卜杜勒阿齐兹国王科技城 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 于静;张亚非 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及深度受温度控制的释放层的制造方法。在第一温度下在基体衬底顶上形成应力源层,该应力源层在基体衬底中诱导第一拉伸应力,第一拉伸应力低于基体衬底的断裂韧度。然后使基体衬底和应力源层处于低于所述第一温度的第二温度。第二温度在应力源层中诱导第二拉伸应力,第二拉伸应力大于第一拉伸应力并且足以允许在基体衬底内发生剥落式断裂。基体衬底在第二温度下剥落而形成剥落的材料层。剥落在断裂深度处发生,所述断裂深度依赖于基体衬底的断裂韧度、基体衬底内的应力水平以及应力源层的在第二温度下诱导的第二拉伸应力。 | ||
搜索关键词: | 深度 温度 控制 释放 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:在第一温度下在基体衬底顶上形成应力源层,所述第一温度下的所述应力源层在所述基体衬底中诱导第一拉伸应力,所述第一拉伸应力低于所述基体衬底的断裂韧度;使包括所述应力源层的所述基体衬底处于低于所述第一温度的第二温度,其中所述第二温度在所述基底衬底中诱导第二拉伸应力,所述第二拉伸应力大于所述第一拉伸应力并且足以允许在所述基体衬底内发生剥落式断裂;以及使所述基体衬底在所述第二温度下剥落而形成剥落的材料层,其中所述剥落在断裂深度处发生,所述断裂深度依赖于所述基体衬底的断裂韧度、所述基体衬底内的应力水平以及所述应力源层的在所述第二温度下诱导的所述第二拉伸应力。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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