[发明专利]一种LED外延结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310137286.3 申请日: 2013-04-19
公开(公告)号: CN103236477A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 南琦;谢祥彬;乔楠;张文燕;周宏敏;李兰;程伟;徐志军;吴洪浩 申请(专利权)人: 安徽三安光电有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 241000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开一种LED外延结构及其制备方法,自下而上依次包括:衬底;GaN成核层;若干对AlGaN/n-GaN交替堆叠结构组成的超晶格缓冲层;n-GaN层;MQW发光层;p-GaN层以及p型接触层;其特征在于:定义Al(n)代表第n对AlGaN/n-GaN超晶格缓冲层对中Al组分值,N(n)代表第n对AlGaN/n-GaN超晶格缓冲层对中n型杂质浓度值,Al(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降,N(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降。本发明提供的LED外延片结构,可有效在底层生长段充分释放由于蓝宝石衬底和GaN晶格不匹配造成的晶格失配导致的晶格应力,从而大大降低外延片在整个高温生长过程中的翘曲,提升外延片波长集中性及良率,同时有效提升GaN晶格质量,减少晶格位错密度,使器件光电特性更为稳定。
搜索关键词: 一种 led 外延 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种LED外延结构,自下而上依次包括:衬底;GaN成核层;若干对AlGaN/n‑GaN交替堆叠结构组成的超晶格缓冲层;n‑GaN层;MQW发光层;p‑GaN层以及 p型接触层;其特征在于:定义Al(n)代表第n对AlGaN/n‑GaN超晶格缓冲层对中Al组分值,N(n)代表第n对AlGaN/n‑GaN超晶格缓冲层对中n型杂质浓度值,Al(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降,N(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降。
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