[发明专利]非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法有效
| 申请号： | 201310138301.6 | 申请日： | 2013-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN103245418A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 程有度;李龙;孙光英;李立华;王敏;姜炜波;赵薇薇;杨登全;杨东 | 申请（专利权）人： | 昆明物理研究所 |
| 主分类号： | G01J5/02 | 分类号： | G01J5/02;G02B26/04 |
| 代理公司： | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650223 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法，其技术方案为非制冷焦平面热像仪内的探测器光敏面固定不动，斩波器的调制盘在匀速旋转调制过程中，对于调制盘的曝光扇叶或调制盘的遮挡扇叶的任意一条扇叶边缘，在其扫过探测器光敏面中心的时刻，该条扇叶边缘与探测器光敏面的两个长对边同时相交。当调制盘的扇叶边缘的曲线给定后，探测器光敏面要尽量远离调制盘圆心而与调制盘的外圆内接；斩波器调制盘旋转到亮场同步时刻时，斩波器调制盘曝光扇叶的两条扇叶边缘尽量平行地扫过探测器光敏面的两条短边的中点。该发明能使热像仪信号平均调制损失率、最大调制损失率减小近一半，大幅提高平均信号响应及信号响应均匀性，从而改善图像均匀性。 | ||
| 搜索关键词： | 制冷 平面 热像仪盘式 斩波器 逐列推扫 调制 方法 | ||
【主权项】：
非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法，其特征在于：非制冷焦平面热像仪内的探测器光敏面⑷固定不动，斩波器的调制盘在匀速旋转调制过程中，对于调制盘的曝光扇叶⑴或调制盘的遮挡扇叶⑵的任意一条扇叶边缘⑶，在其扫过探测器光敏面中心（O2）的时刻，该条扇叶边缘⑶与探测器光敏面⑷的两个长对边同时相交。
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