[发明专利]双层复合材料的上层材料X射线衍射谱的获取方法

摘要

本发明具体涉及一种双层复合材料的上层材料X射线衍射谱的获取方法。其技术方案是：先后用X射线衍射仪测量双层复合材料的上表面材料和基体材料，依次得到该上表面材料和基体材料的X射线衍射强度数据，其对应的数学模型为I0＝f0(2θ)和I1＝f1(2θ')，由于两次测量时衍射仪扫测的范围和步长一样，即θ'＝θ，则I1＝f1(2θ)；然后将两次测得的强度数据按I＝f1(2θ)-af0(2θ)计算得到上层材料的X射线衍射强度数据，将该数据用Jade软件处理，即得双层复合材料的上层材料的X射线衍射谱。该方法简单，操作方便，整个过程易于实现，能很好地解决双层复合材料的基体材料的上表面未完全被上层材料所覆着或磨损而导致上层材料的衍射谱难以获取的问题。

主权项

一种双层复合材料的上层材料X射线衍射谱的获取方法，其特征在于所述方法是：先在室温条件下用X射线衍射仪测量双层复合材料的上表面材料，得到上表面材料的X射线衍射强度数据，把所获得的衍射强度数据经Jade软件处理得到上表面材料衍射谱；该上表面材料的X射线衍射强度数据的数学模型为I0＝f0(2θ)    （1）式（1）中：θ为测上表面材料时的X射线入射角；再在室温条件下用X射线衍射仪测量双层复合材料的基体材料，两次测量时的衍射仪主要参数相同；得到该基体材料的X射线衍射强度数据，把所获得的衍射强度数据经Jade软件处理得到基体材料衍射谱；该基体材料的X射线衍射强度数据的数学模型为I1＝f1(2θ')    （2）式（2）中：θ'为测基体材料时的X射线入射角，由于两次测量时衍射仪扫测的范围和步长一样，即θ'＝θ；则该基体材料的X射线衍射强度数据的数学模型为I1＝f1(2θ)    （3）然后根据式（1）、（3），得双层复合材料的上层材料的X射线衍射强度数据的数学模型为I＝f1(2θ)‑af0(2θ)    （4）式（4）中：a为第一次测量的上表面材料和第二次测量的基体材料中 某一相同物相在同一2θ处的特征峰强度的比值或积分强度的比值，所选取的同一2θ处不存在重叠峰；最后将式（4）计算所获得的上层材料的X射线衍射强度数据用Jade软件处理，即得双层复合材料上层材料的X射线衍射谱。